浏览器自带分享功能也很好用哦~器件性能及光谱测试
针对MEMS传感器性能指标，，尊龙时凯提供以椭偏测试、、、、光谱测试、、激光多普勒测振等测试项目，，，，可对材料膜厚、、、、折射率、、、、吸收率、、、、透光度、、、光波强度、、振动模态等性能指标进行更准确测量，，，，以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。。
激光多普勒测振 | |
位移分辨率：≥1pm | 频率范围：0Hz~5MH |
速度分辨率：≥0.01μm/(s √Hz) | 测量速度：±12m/s |
多普勒测振（LDV）可有效完成器件表面非接触式测量，，，具有高空间分辨率、、快速测量反应和微米级光斑等特点，，，面向MEMS器件的振动频率、、速度、、、、位移等检测需求更具优异性。。。。
器件性能及光谱测试
针对MEMS传感器性能指标，，尊龙时凯提供以椭偏测试、、、光谱测试、、、激光多普勒测振等测试项目，，，可对材料膜厚、、、折射率、、、吸收率、、、、透光度、、光波强度、、、振动模态等性能指标进行更准确测量，，，，以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。
激光多普勒测振 | |
位移分辨率：≥1pm | 频率范围：0Hz~5MH |
速度分辨率：≥0.01μm/(s √Hz) | 测量速度：±12m/s |
多普勒测振（LDV）可有效完成器件表面非接触式测量，，，具有高空间分辨率、、、快速测量反应和微米级光斑等特点，，面向MEMS器件的振动频率、、、速度、、位移等检测需求更具优异性。。
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